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10-27
2023
芯片检测丨阿瑞斯CIS线扫相机半导体芯片封装丝印检测案例分析
{01 应用背景在半导体芯片封装过程中,丝印层会存在不同情况的质量缺陷,若不对上述存在缺陷的产品进行合格性检测以及分流处理,势必会影响 ...
10-13
2023
玻璃检测丨阿瑞斯CIS线扫相机在大尺寸玻璃中的应用
{01应用背景玻璃生产的工业化和规模化后,各种用途和各种性能的玻璃相继问世。现代,玻璃已成为日常生活、生产和科学技术领域的重要材料,被 ...
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